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頤光科技為您精選了多款光譜橢偏儀、反射膜厚儀自研產(chǎn)品。光譜橢偏儀ME-L穆勒矩陣橢偏儀ME-L是一款全自動(dòng)高精度穆勒矩陣光譜橢偏儀，擁有行業(yè)前沿的光路調(diào)制技術(shù)，采用半導(dǎo)體制冷式探測(cè)器，具有超高靈敏度和極快的信號(hào)采集速度，同時(shí)也包括消色差補(bǔ)償器、雙旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器同步控制、穆勒矩陣數(shù)據(jù)分析等。ME-Mapping光譜橢偏儀ME-Mapping光譜橢偏儀可以滿足大尺寸晶圓的多點(diǎn)自動(dòng)化掃描測(cè)量需求，自定義繪制測(cè)量路徑，支持實(shí)時(shí)顯示膜厚分布以及數(shù)據(jù)匯總。設(shè)備采用雙旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器調(diào)制技術(shù)，直接測(cè)...

橢偏儀在AR衍射光波導(dǎo)行業(yè)中的應(yīng)用AR衍射光波導(dǎo)是什么？目前，市面上較成熟的AR光學(xué)顯示方案主要有棱鏡方案、Birdbath方案、自由曲面方案和光波導(dǎo)方案等。各方案都有不同維度上的側(cè)重，但真正滿足AR產(chǎn)品需求的光學(xué)方案其實(shí)并不多。AR光學(xué)顯示方案特點(diǎn)缺點(diǎn)棱鏡方案可實(shí)現(xiàn)全彩顯示，技術(shù)成熟，價(jià)格便宜FOV不夠大，AR體驗(yàn)感不強(qiáng)，無(wú)法做成眼鏡形態(tài)自由曲面方案成像色彩飽和、視場(chǎng)角大、功耗較低，體積適中比普通眼鏡更厚、重，外界透光率較低、圖像容易畸變Birdbath方案結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、門檻低...

目錄01平板顯示行業(yè)測(cè)量介紹02平板顯示行業(yè)的量測(cè)意義03平板顯示行業(yè)的測(cè)量解決方案01平板顯示行業(yè)測(cè)量介紹平板顯示器件于20世紀(jì)60年代出現(xiàn)，主要包括液晶顯示器、發(fā)光二極管、等離子顯示板、電致發(fā)光顯示器等。目前液晶顯示LCD（LiquidCrystalDisplay）與有機(jī)電致發(fā)光顯示OLED（OrganicLight-EmittingDiode）為平板顯示行業(yè)主要顯示技術(shù)，占據(jù)行業(yè)絕大部分產(chǎn)值。檢測(cè)是面板生產(chǎn)過(guò)程的必要環(huán)節(jié)。面板顯示檢測(cè)的作用是在面板顯示器件的生產(chǎn)過(guò)程中進(jìn)...

橢偏儀，作為一種精密光學(xué)測(cè)量?jī)x器，用于分析光的偏振狀態(tài)及其與物質(zhì)相互作用的性質(zhì)，對(duì)半導(dǎo)體、液晶、薄膜材料等的厚度、折射率、吸收系數(shù)等參數(shù)有著精確的測(cè)量能力，在科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)中扮演著重要角色。近年來(lái)，隨著國(guó)內(nèi)科研技術(shù)的發(fā)展，國(guó)產(chǎn)橢偏儀在性能和技術(shù)上取得了長(zhǎng)足進(jìn)步，逐漸成為國(guó)內(nèi)外市場(chǎng)的有力競(jìng)爭(zhēng)者。國(guó)產(chǎn)橢偏儀的測(cè)量誤差受到多種因素的影響，包括儀器本身的設(shè)計(jì)精度、操作條件、被測(cè)樣品特性等。一般而言，現(xiàn)代國(guó)產(chǎn)高檔橢偏儀的誤差范圍可以從幾個(gè)百分點(diǎn)至萬(wàn)分之幾，具體數(shù)值依據(jù)型號(hào)和應(yīng)用場(chǎng)合...

在當(dāng)今追求高品質(zhì)產(chǎn)品和高效率生產(chǎn)的工業(yè)領(lǐng)域，涂層技術(shù)作為增強(qiáng)材料性能、延長(zhǎng)產(chǎn)品壽命的有效途徑之一，其質(zhì)量控制顯得尤為關(guān)鍵。膜厚傳感器，在這一過(guò)程中扮演著的重要角色，成為確保涂層均勻性、耐用性和功能性達(dá)到優(yōu)水準(zhǔn)的“守護(hù)者”。涂層的重要性無(wú)論是金屬表面的防腐保護(hù)，塑料件的裝飾美化，還是光伏電池的光電轉(zhuǎn)換效率提升，涂層均承擔(dān)著至關(guān)重要的任務(wù)。其厚度直接影響了最終產(chǎn)品的性能表現(xiàn)和市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。膜厚傳感器的工作原理根據(jù)不同材質(zhì)和要求，膜厚傳感器分為接觸式和非接觸式兩大類。前者多見于磁感應(yīng)...

在現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)中，薄膜厚度測(cè)試是一個(gè)至關(guān)重要的環(huán)節(jié)，它直接影響到產(chǎn)品的質(zhì)量和性能。選擇合適的儀器和技術(shù)對(duì)于確保薄膜質(zhì)量的穩(wěn)定和可靠具有至關(guān)重要的意義。本文將探討薄膜厚度測(cè)試中如何選擇合適的儀器和技術(shù)，以確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。首先，選擇合適的儀器是測(cè)試的關(guān)鍵。目前市場(chǎng)上有許多不同類型的測(cè)試儀器，例如光學(xué)顯微鏡、掃描電子顯微鏡（SEM）、原子力顯微鏡（AFM）等。在選擇儀器時(shí)，需要考慮到測(cè)試的目的、薄膜的特性以及預(yù)算等因素。例如，如果需要高分辨率的測(cè)試結(jié)果，可以選擇原子力...